13286885940 (王先生)
13262995105(吳先生)
13916985299 (姚小姐)
• 測試頻率:4Hz-2MHz
• 高精度0.05%:采用自動平衡電橋技術,四端對測試配置
• 高分辨率:10.1英寸,分辨率1280*800,電容式觸摸屏
• 高穩定性和一致性:15個量程配置
• 高功率:信號電平:20VAC/100mAAC
內置直流偏置:±40VDC/100mADC
• 高速度:雙CPU架構,*快達400次/s(2.5ms)測試速度
• 操作便捷:Linux操作底層、觸摸操作、嵌入式幫助
• 點測、列表掃描、圖形掃描三種測試方式
• 四參數測量
• 一鍵記錄、一鍵截屏
• 201點多參數列表掃描功能
• 圖形掃描功能,4軌跡任意選擇,支持1/2/4分屏
• 強大的分選:LCR模式:10檔分選
圖形分析模式:支持曲線條件分選
• 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A
TH2848系列精密阻抗分析儀是同惠電子采用了當前國際先進的自動平衡電橋原理及新一代測量控制技術研發成功的新一代精密阻抗分析儀,**性的采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術,解決了以往LCR測試速度慢、顯示單一、操作繁瑣等缺陷。
TH2848系列精密阻抗分析儀設計頻率從4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,標配了壓電導納圓、介電常數測試功能,讓阻抗分析功能得以進一步提升。
得益于采用了10.1吋、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏,TH2848系列精密阻抗分析儀采用了四參數顯示、所有設置、監視、分選參數、狀態等可以在同一屏顯示,避免了頻繁切換的繁瑣操作。
TH2848-02L阻抗分析儀快速選型:
簡要參數
TH2848-02L
TH2848-02
TH2848-05
TH2848-10
測試頻率
4Hz-2MHz
4Hz-5MHz
4Hz-10MHz
基本精度
0.05%
AC信號源
電壓
5mVrms - 2Vrms
5mVrms - 20Vrms
電流
0mArms - 20mArms
0mArms - 100mArms
DC偏置
0V - ±10V
0V - ±40V
0mA - ±100mA
獨立電壓源
DCR測試信號
100mV-1V
0mA - 10mA
多功能參數列表掃描
R
圖形分析掃描
圖形掃描
壓電導納圓
S
介電常數
TH2848-02L阻抗分析儀技術參數:
產品型號
顯示
顯示器
10.1英寸(對角線)電容觸摸屏
比例
16:9
分辨率
1280×RGB×800
測量參數
方式
四參數任意選擇
AC
Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
DC
RDC
壓電
Cp、D、ε、|ε|、εr'、εr''、tanδ、Q
范圍
精度
0.01%
0.1mHz
20.0000Hz-99.9999Hz
1mHz
100.000Hz-999.999Hz
10mHz
1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz
10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz
100.000kHz-999.999kHz
10Hz
1.00000MHz-9.99999MHz
AC測試信號模式
額定值 (ALC OFF)
設定電壓為測試端開路時Hcur電壓
設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流
恒定值 (ALC ON)
保持DUT上電壓與設定值相同
保持DUT上電流與設定值相同
測試電平
電壓范圍
0Vrms - 2Vrms
0mVrms-20Vrms
F≤1MHz
0mVrms-15Vrms
F>1MHz
0mVrms-2Vrms
2MHz<F≤5MHz
0mVrms-1Vrms
5MHz<F≤10MHz
準確度
±(10%×設定值+2mV)(AC≤2Vrms)
±(10%×設定值+5mV)(AC>2Vrms)
0.1mVrms
0mVrms-0.2Vrms
0.2mVrms
0.2Vrms-0.5Vrms
0.5mVrms
0.5Vrms-1Vrms
1mVrms
1Vrms-10Vrms
10mVrms
10Vrms-20Vrms
電流范圍
0mArms-20mArms
0mArms-100mArms
(100Ω內阻)
1μArms
0μArms-2mArms
2μArms
2mArms-5mArms
5μArms
5mArms-10mArms
10μArms
10mArms-100mArms
RDC測試
100μV
0mA-10mA
10μA
0V-±10V
0V-±40V
1%×設定電壓+5mV
AC≤2V
2%×設定電壓+8mV
AC>2V
0.1mV
0V - ±5V
1mV
±5V - ±40V
1μA
0mA-50mA
50mA-100mA
電壓源
-10V - 10V
-45mA - +45mA
輸出阻抗
100Ω
測試端配置
四端對
測試電纜長度
0m、1m
100Ω,±1%@1kHz
數學 運算
與標稱值的**偏差Δ,與標稱值的百分比偏差Δ%
等效方式
串聯、并聯
校準功能
開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
測量平均
1-255次
量程選擇
自動AUTO、手動HOLD
觸發模式
連續、單次
觸發延時
0-60s
獨有功能
一鍵截屏、一鍵記錄,嵌入式幫助系統
量程配置
LCR
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
測量時間(ms/次)
快速:2.5ms,
中速:90ms
慢速:220ms
*高準確度
0.05%(具體參考說明書)
測量顯示范圍
a:1×10-18;E:1×1018
Cs、Cp
0.00001pF - 9.99999F
Ls、Lp
0.00001μH - 99.9999kH
D
0.00001 - 9.99999
Q
0.00001 - 99999.9
R、Rs、Rp、X、Z、RDC
0.001mΩ - 99.9999MΩ
G、B、Y
0.00001μs - 99.9999S
VDC
±0V - ±999.9999V
IDC
±0A - ±999.9999A
θr
-3.14159 - 3.14159
θd
-179.999° - 179.999°
Δ%
±(0.000% - 999.9%)
點數
201點,每個點可設置平均數,每個點可單獨分選
參數
測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流、帶介電常數測試功能基于此列表的各點參數設置實現
順序SEQ:當一次觸發后,在所有掃描點測量,/EOM/INDEX只輸出一次
步進STEP:每次觸發執行一個掃描點測量,每點均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結果只在*后的/EOM才輸出
其他特點
1. 掃描參數與測試參數都有多種復制功能
2. 每個掃描點均可設置延時
比較器
每個掃描點*多可測量四個測試參數,每個參數均可設置上下限,所有測試參數都合格輸出PASS信號,否則輸出FAIL信號,未設上下限則不判斷
掃描點數
51、101、201、401、801點可選
結果顯示
每個參數的極值以及光標所在點的掃描參數值與對應的測試參數值
壓電測試
集成壓電導納圓測試解決方案
掃描軌跡
1-4個測試參數任意選擇,掃描曲線可以一分屏、二分屏、四分屏
顯示范圍
實時自動、鎖定
坐標標尺
對數、線性
掃描參數
頻率、AC電壓、AC電流、DCV BIAS/DCI BIAS
觸發方式
單次
手動觸發一次,從起點到終點一次掃描完成,下個觸發信號啟動新一次掃描
連續
從起點到終點無限次循環掃描
結果保存
圖形、文件
Bin分檔
10Bin、PASS、FAIL
Bin偏差設置
偏差值、百分偏差值、關
Bin模式
容差、連續
Bin計數
0-99999
檔判別
每檔*多可設置四個參數極限范圍,四個測試參數結果設檔范圍內顯示對應檔號,超出設定*大檔號范圍則顯示FAIL,未設置上下限的測試參數自動忽略檔判別
PASS/FAIL指示
滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮,否則FAIL燈量
數據緩存
201個測量結果可分批讀取
存儲調用
內部
儀器內置8GB存儲空間,除去系統占用后用戶可使用空間約6GB
外置USB
測試設定文件、截屏圖形、記錄文件
鍵盤鎖定
可鎖定前面板按鍵
接口
USB HOST
2個USB HOST接口,可同時接鼠標、鍵盤,U盤同時只能使用一個
USB DEVICE
通用串行總線插座,小型B類(4個接觸位置);與USB TMC-USB 488和USB2.0相符合,陰接頭用于連接外部控制器。
LAN
10/100M以太網,8引腳,兩種速度自適應
HANDLER
用于Bin分檔信號輸出
GPIB
標配
RS232C
標準9針,交叉
RS485
開機預熱時間
60分鐘
輸入電壓
100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz
功耗
不小于130VA
尺寸(WxHxD)mm
430x177x265
重量
11kg
■無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
■半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■其它元件:
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
■介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
■液晶材料:
液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
■壓電材料及器件:
壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發生器、換能器(振子)、聲表面波器件、電聲器件等都可以測試如靜態電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機械耦合系數等參數
滬公網安備 31010102004821號