TH510系列半导体器件C-V特性分析仪

性能特点

■ 10.1英寸电容式触摸屏，分辨率1280*800，Linux系统

■ 双CPU架构LCR，*快达0.56ms（1800次/秒）的测试速度

■ 点测、列表扫描、图形扫描(选件)三种测试方式

■ 四寄生参数（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏测量及显示

■ 快速导通测试Cont

■ 一体化设计：LCR+高压源+通道切换

■ 标配2通道测试，可同时测试两个器件或双芯片器件，通道

*多可扩展至6通道，通道参数单独保存

■ 快速充电，缩短电容充电时间，实现快速测试

■ 自动延时设置

■ 高偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0 – 200V/1500V

■ 10档分选

应用

■ 半导体元件/功率元件

二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析

■ 半导体材料

晶圆、C-V特性分析

■ 液晶材料

弹性常数分析