13286885940 (王先生)
13262995105(吴先生)
13916985299 (姚小姐)
研究背景:电子测量仪器作为基础科研工具,是国家科研自主可控的重要环节。在半导体器件、超导材料和光电器件等测试领域中,为了更**地检测器件特性,提升整个测试系统的效率,往往对供给电源和测量同步性方面有更严苛的要求。
TH1991/TH1992系列精密源/测量单元可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、*小10fA/100nV的电源和测量分辨率,支持高速采样,可生成任意波形。
TH1992为双通道版本,相较于单通道版本,TH1992支持双通道同步输出及测量,对于3端器件的测试更友好,可极大提升测试效率。
一、二极管I/V特性
晶体二极管也称为半导体二极管,简称二极管(Diode)。内部由一块P型半导体和N型半导体经特殊工艺加工,在其接触面上形成一个PN结。外部有两个电极,分别称为正极(P型区一侧)和负极(N型区一侧),使用时不能将正负极接反。
因此,二极管具有单向导电性,可用于整流、检波、稳压等电路中。用来产生、控制、接收、变换、进行能量转换等。
衡量二极管特性和核心是二极管的伏安特性曲线(简称I/V特性)
二极管分硅管和锗管
材料类型
死区电压
正向导通电压
硅(Si)
0.5V
0.6-0.8V
锗(Ge)
0.1V
0.2-0.3V
如何测试二极管的I/V特性?以常见的1N4148保护二极管为例
TH199X方案VS传统方案,区别在哪儿?
连接好之后,操作更简单
只需8步,可以将二极管正反向IV曲线全部测出,全程触摸屏操作,无需连接电脑上位机,曲线可直接截屏及生成csv表格,快捷简单。
因此,使用TH199X系列精密源/测量单元(SMU)测试更**、更快捷,适合从产线到实验室各种场合。
沪公网安备 31010102004821号